Sumbangan 15 September 2024 – 1 Oktober 2024 Tentang pengumpulan dana

Pencarian kata kunci

  • Main
  • Pencarian kata kunci
1
Основы динамической высокоразрешающей дифрактометрии функциональных материалов

Основы динамической высокоразрешающей дифрактометрии функциональных материалов

В.Б.Молодкин, М.В.Ковальчук, И.М.Карнаухов, В.Ф.Мачулин, В.Е.Сторижко, Э.Х.Мухамеджанов, А.И.Низкова, С.В.Лизунова, Е.Н.Кисловский, С.И.Олиховский, Б.В.Шелудченко, С.В.Дмитриев, Е.С.Скакунова, В.В.Молодкин, В.В.Лизунов, В.А.Бушуев, Р.Н.Кютт, Б.С.Карамурзо
дифракции
дефектов
рассеяния
динамической
дифрактометрии
рис
материалов
основы
функциональных
высокоразрешающей
условий
кристалла
характеристик
отражения
зависимости
картины
диагностики
дефектами
диффузной
интенсивности
молодкин
в.б
волн
типов
решетки
счет
влияния
обратной
диффузного
лауэ
составляющей
геометрии
т.е
phys
зависимостей
многопараметрической
кдо
параметров
типа
характера
чувствительности
деформации
структуры
зависимость
новейшие
пространстве
мкм
кристаллах
нескольких
поглощения
Tahun:
2013
Bahasa:
russian
File:
PDF, 9.59 MB
0 / 0
russian, 2013
2
Синхротронное излучение: методы исследования структуры веществ : учебное пособие для студентов старших курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия

Синхротронное излучение: методы исследования структуры веществ : учебное пособие для студентов старших курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия

Г. В. Фетисов, под ред. Л. А. Асланова
излучения
рентгеновских
лучей
поглощения
пучка
рис
волны
рассеяния
помощью
фотонов
излучение
измерения
электронов
энергии
интенсивности
xafs
кристалла
данных
структуры
анализа
рентгеновского
детектора
атомов
спектра
образца
рентгеновской
длины
отражения
интенсивность
области
exafs
å
синхротронного
волн
исследования
плоскости
источника
дифракции
метод
пучков
дифракционных
число
излучении
электрона
порядка
пучок
энергией
кэв
энергия
источников
Tahun:
2007
Bahasa:
russian
File:
PDF, 11.51 MB
0 / 0
russian, 2007
3
Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ

Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ

Фетисов Г.В.
излучения
рентгеновских
лучей
поглощения
пучка
рис
волны
рассеяния
помощью
фотонов
излучение
измерения
электронов
энергии
интенсивности
xafs
кристалла
данных
структуры
анализа
рентгеновского
детектора
атомов
спектра
образца
рентгеновской
длины
отражения
интенсивность
exafs
области
å
синхротронного
волн
исследования
плоскости
источника
дифракции
метод
пучков
дифракционных
число
излучении
электрона
порядка
пучок
энергией
кэв
энергия
источников
Tahun:
2007
Bahasa:
russian
File:
PDF, 19.65 MB
0 / 0
russian, 2007
4
Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ

Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ

Фетисов Г.В.
излучения
рентгеновских
лучей
поглощения
пучка
рис
волны
рассеяния
помощью
фотонов
излучение
измерения
электронов
энергии
интенсивности
xafs
кристалла
данных
структуры
анализа
рентгеновского
детектора
атомов
спектра
образца
рентгеновской
длины
отражения
интенсивность
области
exafs
å
синхротронного
волн
исследования
плоскости
источника
дифракции
метод
пучков
дифракционных
число
излучении
электрона
порядка
пучок
энергией
кэв
энергия
источников
Tahun:
2007
Bahasa:
russian
File:
PDF, 11.20 MB
0 / 0
russian, 2007
5
Рентгеновская дифрактометрия: [учеб. пособие для вузов]

Рентгеновская дифрактометрия: [учеб. пособие для вузов]

М.Г. Исаенкова, Ю.А. Перлович, В.И. Скрытный, Н.А. Соколов, В.Н. Яльцев
рис
счетчика
излучения
образца
линии
счетчик
счетчики
счетчиков
дифракционной
образец
квантов
дифрактометры
2θ
дифракционных
плоскости
рентгеновских
отражений
составляет
регистрации
помощью
рентгеновского
счета
данных
детектора
интенсивности
линий
измерения
импульсов
пучка
разрешение
решетки
позволяет
рентгеновской
схема
число
энергии
дифрактометра
фокусировки
камеры
кристалла
оси
угол
анализа
координаты
метод
определения
поверхности
дифрактометрии
дифракционного
зависимости
Tahun:
2007
Bahasa:
russian
File:
PDF, 1.23 MB
0 / 0
russian, 2007
6
Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть II: Учебное пособие

Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть II: Учебное пособие

Кузьмичева Г.М.
ячейки
элементарной
рис
структуры
состава
bo3
твердых
lasc3
параметров
фазы
атомы
атомов
табл
кристаллической
фактор
растворов
растворы
параметры
твердые
уточнения
позиции
раствора
параметра
определение
позиция
интенсивности
отражений
зависимость
образца
типа
фаз
атомно
дифракционных
hkl
интенсивность
зависимости
системе
твердого
формуле
insb
основе
раствор
структуре
твердый
число
fhkl
т.е
значения
кристаллитов
параметр
Tahun:
2006
Bahasa:
russian
File:
PDF, 885 KB
0 / 0
russian, 2006
7
Изучение структуры песка методом рентгеновской дифрактометрии

Изучение структуры песка методом рентгеновской дифрактометрии

Кужир, П. Г.
песка
рис
кристаллической
элементарной
излучения
дифракционных
ячейки
излучение
рентгеновских
рентгеновского
sio2
атомов
называется
пиков
структуры
штрих
ячейка
интенсивности
кристаллических
лучей
интенсивность
решетки
дифракции
песок
элементарная
элементарных
ячеек
дифрактометрии
интенсивностей
табл
волны
используется
линии
линий
нальная
порошковой
рентгеновской
тетрагональной
электроны
атомами
веществ
вещества
вульфа
лучи
отн.ед
примитивной
расстояния
рентгеновское
структур
таблица
Bahasa:
russian
File:
PDF, 322 KB
0 / 0
russian
8
Влияние остаточных напряжений на качество изделий при холодной обработке давлением листовых заготовок

Влияние остаточных напряжений на качество изделий при холодной обработке давлением листовых заготовок

МАМИ
напряжений
рисунок
напряжения
остаточные
обработки
остаточных
мами
материала
мгту
ротационной
деформации
инструмента
максимума
технология
а.в
деталей
излучения
материалы
машиностроения
метода
раздел
θс0
деталью
заготовок
известия
методом
результаты
рентгеновского
тяжести
холодной
центра
sin2ψ
взаимодействия
выглаживанием
вытяжки
изделий
изделия
исследований
к.т.н
контакта
контактного
мнп
моделирование
направлении
поверхности
проф
рентгеновской
статье
δθ
θс
Bahasa:
russian
File:
PDF, 544 KB
0 / 0
russian